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Foilsithe11/05/2012
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Sprioc‑am29/06/2012
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Bronnta24/09/2012
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Inniu23/08/2026
Áirgiúlachtaí
D-München: Scanning electron microscopes
REM zur Analyse und Charakterisierung von Nanopartikeln, Polymer-Nanokompositen, Nano- und Mikrostrukturen eingesetzt werden. Es soll verschiedene leitende Materialien und Materialkombinationen (Metalle, Legierungen, ...) hochauflösend und mit gutem Kontrast abbilden können, des Weiteren hochauflösende Untersuchungen der Morphologie von Nanopartikeln ermöglichen.
Es können auch Gebraucht- oder Vorführgeräte angeboten werden.
Ainm oifigiúil: Fraunhofer Gesellschaft
Seoladh poist: Nur Elektronisch
Baile: München
Cód poist: 80686
Tír: DEU
Teagmhálaí: BM 014/252703/CL
Seoladh poist: Europa Fichtenhain A 12
Baile: Krefeld
Cód poist: 47807
Tír: DEU
An t-ábhar seo a fhoilsítear ar an leathanach seo, is mar sheirbhís bhreise amháin atá sé beartaithe agus níl aon éifeacht dhlíthiúil aige. Ní ghabhann institiúidí an Aontais aon dliteanas orthu féin i leith inneachar an téacs. Is iad na leaganacha oifigiúla de na fógraí tairisceana ábhartha na cinn a fhoilsítear i bhForlíonadh Iris Oifigiúil an Aontais Eorpaigh agus atá ar fáil in TED. Is féidir teacht ar na téacsanna oifigiúla sin ach na naisc atá leabaithe sa leathanach seo a bhrú. Chun tuilleadh eolais a fháil, féach an fógra maidir le Inmhínitheacht agus Dilteanas Soláthair Phoiblí.