Publications Office of the EU
Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten - Przetargi UE
DisplayCustomHeader
Procurement Detail Actions Portlet
OP Portal - Procurement - Details

Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten

  • Opublikowano
    12/05/2025
  • Termin
    24/06/2025
  • Mai nap
    05/07/2025
Status
Zakończono składanie ofert
Rodzaj zamówienia
Supplies
Przedłużona procedura
No
Nabywca
Technische Universität Ilmenau, Dezernat Finanzen, Zentrale Vergabestelle
Miejsce realizacji
NUTS code: Wiele miejsc realizacji
Lokalizacja nabywcy
NUTS code: DEG0F Ilm-Kreis
Gazdasági ágazat (fő CPV)
38511100 Skanujące mikroskopy elektronowe
Całkowita szacunkowa wartość zamówienia (bez VAT)
Brak
Całkowita ostateczna wartość zamówienia (bez VAT)
Brak
Numer referencyjny oferty
TU-025/25-201-ZMN
Opis

Lieferung, Aufbau und Inbetriebnahme einer flexibel einsetzbaren modernen Plasma-FIB (PFIB), wel-che die Möglichkeit der kontaminationsarmen Präparation von Strukturen über größere Probenbe-reiche mit hoher Abtragsrate besitzt. Diese hohen Abtragsraten sind für die effiziente Herstellung und Charakterisierung von verschiedenen z.T. integrierten Strukturen in unterschiedlichen Größens-kalen von Bedeutung. Mit der geplanten Anlage sollen großflächige Strukturen durch gezielte Feinstrukturierung in Mikro- und Nanometerdimension (sowohl lateral als auch in die Tiefe) hergestellt werden. Unter anderem werden damit sowohl die grundlagenbasierte Forschung im Bereich der quanten-photonisch inte-grierten Systeme (Q-PICs) vorangetrieben als auch durch die Kombination der verschiedenen tech-nologischen Konzepte mikroelektronische Systeme direkt mit Q-PICs verknüpft. Gleichzeitig soll das Gerät die Möglichkeit der Lamellenpräparation für die Transmissionselektronen-mikroskopie (TEM) unterstützen und dabei die dafür nötige Präzision auch für die Oberflächenstruk-turierung größerer Dimensionen an den Grenzen der physikalisch-technischen Realisierbarkeit be-reitstellen. Zusätzlich kann die Anlage zur Charakterisierung von Proben mit Hilfe der elektronenstrahlbasierten Abbildung verwendet werden, welche sowohl in situ (während der Strukturierung) als auch vor/nach der Strukturierung möglich ist. Dies erfolgt in der gesamten Technologiekette.

Sposób składania ofert
Drogą elektroniczną:
https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=771462
Oferty można składać
Składanie dokumentów drogą elektroniczną: wymagane
https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=771462
Informacje na temat zamówienia publicznego, umowy ramowej lub dynamicznego systemu zakupów (DPS)
Brak
Warunki otwarcia ofert (data)
Brak
Place of performance
Kryterium udzielenia zamówienia
Brak
Szacunkowa wartość
Brak
Ostateczna wartość zakontraktowana
Brak
Udzielenie zamówienia
Brak
Informacje wstępne
Zamówienie
Udzielenie
Footnote - legal notice

Treść tej strony ma wyłącznie charakter usługi dodatkowej i nie wywołuje skutków prawnych. Unijne instytucje nie ponoszą żadnej odpowiedzialności za tę treść. Oficjalne wersje odpowiednich ogłoszeń o zamówieniu to wersje opublikowane w Suplemencie do Dziennika Urzędowego Unii Europejskiej i dostępne w serwisie TED. Do oficjalnych wersji ogłoszeń prowadzą linki opublikowane na tej stronie. Więcej na ten temat można znaleźć w informacji o wytłumaczalności i odpowiedzialności w kontekście zamówień publicznych.