-
Ippubblikat25/05/2012
-
Skadenza16/07/2012
-
Aġġudikat07/08/2012
-
Illum11/08/2026
Utilitajiet
D-Munich: Makkinarju industriali
Lock-in Infrarot Thermographie-System zur Fehleranalyse von elektronischen Bauteilen. Fehler auf elektronischen Bauelementen lassen sich häufig durch eine ungleichmäßige Leistungsverteilung zeigen. Dies führt zu ungewöhnlichen lokalen Erwärmungen auf dem Bauteil. Um solche Defekte besser lokalisieren zu können soll mit Hilfe eines sehr empfindlichen Lock-in Systems elektronische Bauelemente im Bereich weniger μW analysiert werden können.
Isem uffiċjali: Fraunhofer Gesellschaft
Indirizz postali: Nur elektronisch
Belt: München
Kodiċi postali: 80686
Pajjiż: DEU
Persuna ta' kuntatt: BM 879/211422/CL
Indirizz postali: Am Weichselgarten 7
Belt: Erlangen
Kodiċi postali: 91058
Pajjiż: DEU
Dan il-kontenut ippubblikat f’din il-paġna hu maħsub purament bħala servizz addizzjonali u m’għandu ebda effett legali. L-istituzzjonijiet tal-Unjoni ma jassumu ebda responsabbiltà għall-kontenut tiegħu. Il-verżjonijiet uffiċjali tal-avviżi rilevanti dwar l-offerti huma dawk ippubblikati fis-Suppliment tal-Ġurnal Uffiċjali tal-Unjoni Ewropea u disponibbli fit-TED. Dawk it-testi uffiċjali huma aċċessibbli direttament permezz tal-links inkorporati f’din il-paġna. Għal aktar informazzjoni jekk jogħġbok ara l-Avviż ta’ Spjegabbiltà u Responsabbiltà tal-Akkwist Pubbliku.