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Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten - Offerti tal-UE
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Strukturierungs- und Beobachtungssystem auf Basis einer Plasma-Ionensäule und einer Elektronensäule zur Beobachtung, sowie kontaminationsarmen Präparation großer Probenbereiche mit hohen Abtragsraten

  • Ippubblikat
    12/05/2025
  • Skadenza
    24/06/2025
  • Illum
    02/07/2025
Status
Sottomissjoni magħluqa
Tip ta’ kuntratt
Supplies
Suġġett għat-Tiġdid
No
Xerrej
Technische Universität Ilmenau, Dezernat Finanzen, Zentrale Vergabestelle
Post tal-prestazzjoni
NUTS code: Post multiplu ta’ prestazzjoni
Post tax-xerrej
NUTS code: DEG0F Ilm-Kreis
Settur tan-negozju (CPV ewlieni)
38511100 Mikroskopju elettroniku ta' l-iskenjar
Stima tal-valur totali tal-kuntratt (eskluża l-VAT)
Mhux disponibbli
Valur totali finali tal-kuntratt (eskluża l-VAT)
Mhux disponibbli
Numru ta’ referenza tal-offerta
TU-025/25-201-ZMN
Deskrizzjoni

Lieferung, Aufbau und Inbetriebnahme einer flexibel einsetzbaren modernen Plasma-FIB (PFIB), wel-che die Möglichkeit der kontaminationsarmen Präparation von Strukturen über größere Probenbe-reiche mit hoher Abtragsrate besitzt. Diese hohen Abtragsraten sind für die effiziente Herstellung und Charakterisierung von verschiedenen z.T. integrierten Strukturen in unterschiedlichen Größens-kalen von Bedeutung. Mit der geplanten Anlage sollen großflächige Strukturen durch gezielte Feinstrukturierung in Mikro- und Nanometerdimension (sowohl lateral als auch in die Tiefe) hergestellt werden. Unter anderem werden damit sowohl die grundlagenbasierte Forschung im Bereich der quanten-photonisch inte-grierten Systeme (Q-PICs) vorangetrieben als auch durch die Kombination der verschiedenen tech-nologischen Konzepte mikroelektronische Systeme direkt mit Q-PICs verknüpft. Gleichzeitig soll das Gerät die Möglichkeit der Lamellenpräparation für die Transmissionselektronen-mikroskopie (TEM) unterstützen und dabei die dafür nötige Präzision auch für die Oberflächenstruk-turierung größerer Dimensionen an den Grenzen der physikalisch-technischen Realisierbarkeit be-reitstellen. Zusätzlich kann die Anlage zur Charakterisierung von Proben mit Hilfe der elektronenstrahlbasierten Abbildung verwendet werden, welche sowohl in situ (während der Strukturierung) als auch vor/nach der Strukturierung möglich ist. Dies erfolgt in der gesamten Technologiekette.

Metodu ta' Sottomissjoni
Elettronika permezz ta’:
https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=771462
Jistgħu jiġu sottomessi offerti
Sottomissjoni elettronika: meħtieġa
https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=771462
Informazzjoni dwar kuntratt pubbliku, ftehim ta' qafas jew sistema dinamika ta' xiri (DSX)
Mhux disponibbli
Kundizzjonijiet għall-ftuħ tal-offerti (data)
Mhux disponibbli
Post tal-prestazzjoni
Metodu tal-għoti
Mhux disponibbli
Valur stmat
Mhux disponibbli
Valur kuntrattwali finali
Mhux disponibbli
Għoti tal-kuntratt
Mhux disponibbli
Informazzjoni minn qabel
Kuntratt
Għoti
Footnote - legal notice

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