Obiectul contractului: Achiziție de produse - Microscopul electronic solicitat trebuie să fie prevăzut cu un tun electronic cu emisie în câmp (FEG-SEM), de înaltă stabilitate (≤0.5% pe oră) şi rezoluţie nanometrică, având tensiunea de accelerare a fasciculului incident în intervalul 300 V – 30 kV, sau mai larg, iar curentul de fascicul să fie reglabil în intervalul de 1.5 pA şi 150 nA, sau mai larg. Puterea de mărire a microscopului trebuie să fie până la 2.000.000 X, sau mai mare. Microscopul trebuie să funcționeze pentru diverse tipuri de materiale într-un interval al presiunii de la 10 Pa, până la cel puţin 3800 Pa și să permită imagistică de înaltă rezoluţie. Acesta trebuie să permită achiziţionarea simultană de imagini cu electroni secundari SE şi cu electroni retroîmprăştiaţi BSE și să fie echipat cu cel puţin un detector de tip Everhart-Thornley dedicat modului de lucru în vid înalt, pentru colectarea electronilor secundari SE şi retroîmprăştiaţi BSE în camera probei. Rezoluţia minimă cu electroni secundari SE garantată la distanţa optimă de lucru să fie de 1 nm la 30 kV, în vid înalt şi de 1.3 nm în vid scăzut. Camera probei să conţină detector BSE, prevăzut constructiv cu cel puţin 6 segmente selectabile individual din interfaţa grafică utilizator, pentru obţinerea contrastelor superioare de fază şi topografie prin selectarea unghiulară a semnalelor BSE. De asemenea, rezoluţia minimă cu electroni retroîmprăştiaţi BSE garantată la distanţa optimă de lucru să fie de 2.5 nm la 30 kV, atât în vid înalt, cât şi în vid scăzut. Microscopul trebuie să conțină un detector analitic EDS retractabil motorizat, cu fereastră activă de cel puţin 30 mm² şi rezoluţia minimă garantată de 129 eV pe linia kα a Mn, pentru analiza elementală de înaltă rezoluţie, dotat software compatibil. Echipamentul trebuie să conțină o sursă neintreruptibilă (UPS) cu puterea de minim 6 kVA, pentru protecţia componentelor electronice. Pentru buna funcționare și eficiență în perioada mentenanței este necesar a fi inclus un sistem integrat de monitorizare service şi diagnosticare la distanţă prin conectarea la internet a microscopului, pentru reducerea perioadei de nefuncţionare. Sistemul ofertat trebuie să fie însoţit de toate accesoriile necesare instalării şi funcţionării la parametrii maximi declaraţi de producător, cum ar fi, dar fără a exclude altele: pompe de vid preliminar şi vid înalt, sistem antivibraţie, compresor de aer, conducte, furtune, cabluri, cuplaje, conectori, masa operatorului, sistem de operare compatibil cu softul echipamentului ofertat, interfeţe grafice de utilizator SEM şi EDS. Sistemul ofertat trebuie să includă software cu licenta perpetua, ce poate fi instalat in sistem de operare Windows, pentru operarea echipamentului, achizitie, procesare date SEM si EDS. Toate caracteristicile tehnice ofertate trebuie să fie demonstrate la punerea în funcţiune a echipamentului, cu respectarea procedurilor producătorului. După instalare și punerea în funcțiune, se va asigura un curs de instruire remote sustinut de specialistul producatorului/furnizorului, specializat de imagistica SEM şi analiza EDS, timp de minim 2 zile lucrătoare succesive și va fi necesară acordarea unei garanţii, care include piese de schimb şi manoperă gratuite, pentru asigurarea unei durate mari de funcţionare, de minim 2 ani de zile. Se garantează durata de funcţionare a sursei electronice de tip FEG pe durata perioadei de garanţie, fără costuri suplimentare din partea Autorităţii contractante. Numar zile pana la care se pot solicita clarificari inainte de data limita de depunere a ofertelor/candidaturilor 18 termenul de raspuns al autoritatii la solicitarile de clarificare / informatii suplimentare: in a 11 zi inainte de termenul limita de depunere a ofertelor. Orice solicitare de clarificări trebuie transmisă în SEAP
