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Veröffentlicht28/08/2019
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Frist25/09/2019
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Öffnung der Angebote25/09/2019
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Vergeben18/12/2019
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Heute26/09/2026
Hilfsprogramme
Frankreich-Grenoble: Softwarepaket für Dokumentenerstellung, Zeichnen, Bildverarbeitung, Terminplanung und Produktivität
Dans le cadre de ses activités de recherche et développement en micro et nanotechnologies, le CEA-LETI souhaite faire l'acquisition de licences de logiciels de détection de contours et de métrologie sur des images de microscopie électronique. La détection de contours devra être précise et robuste aux différents artefacts d’imagerie SEM (bruit, charging, résolution). La métrologie associée doit permettre de diagnostiquer les caractéristiques dimensionnelles de différents patterns de micro-électronique comme par exemple des contacts, des «lignes/spaces» ou des motifs curvilinéaires. Le logiciel devra aussi être en mesure de comparer de manière quantitative des patterns lithographiés avec des références données.
https://www.marches-publics.gouv.fr
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