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Veröffentlicht11/05/2012
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Frist29/06/2012
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Vergeben24/09/2012
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Heute14/08/2026
Hilfsprogramme
D-München: Rasterelektronenmikroskope
REM zur Analyse und Charakterisierung von Nanopartikeln, Polymer-Nanokompositen, Nano- und Mikrostrukturen eingesetzt werden. Es soll verschiedene leitende Materialien und Materialkombinationen (Metalle, Legierungen, ...) hochauflösend und mit gutem Kontrast abbilden können, des Weiteren hochauflösende Untersuchungen der Morphologie von Nanopartikeln ermöglichen.
Es können auch Gebraucht- oder Vorführgeräte angeboten werden.
Offizielle Bezeichnung: Fraunhofer Gesellschaft
Postanschrift: Nur Elektronisch
Ort: München
Postleitzahl: 80686
Land: DEU
Kontaktperson: BM 014/252703/CL
Postanschrift: Europa Fichtenhain A 12
Ort: Krefeld
Postleitzahl: 47807
Land: DEU
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