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Offentliggjort25/05/2012
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Frist16/07/2012
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Tildelt07/08/2012
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I dag15/08/2026
Værktøjer
D-München: Industrimaskiner
Lock-in Infrarot Thermographie-System zur Fehleranalyse von elektronischen Bauteilen. Fehler auf elektronischen Bauelementen lassen sich häufig durch eine ungleichmäßige Leistungsverteilung zeigen. Dies führt zu ungewöhnlichen lokalen Erwärmungen auf dem Bauteil. Um solche Defekte besser lokalisieren zu können soll mit Hilfe eines sehr empfindlichen Lock-in Systems elektronische Bauelemente im Bereich weniger μW analysiert werden können.
Officiel betegnelse: Fraunhofer Gesellschaft
Postadresse: Nur elektronisch
By: München
Postnummer: 80686
Land: DEU
Kontaktperson: BM 879/211422/CL
Postadresse: Am Weichselgarten 7
By: Erlangen
Postnummer: 91058
Land: DEU
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