-
Offentliggjort20/05/2011
-
Frist08/07/2011
-
Tildelt22/08/2011
-
I dag11/06/2026
Værktøjer
D-München: Industrimaskiner
Zur Analyse von Dünnschicht-Heterostrukturen bezüglich struktureller Parameter wie Gitterparameter, Zusammensetzung, Relaxationseffekte, Schichtdicken, Schichtrauhigkeiten, struktureller Perfektion und Schichthomogenität planen wir die Beschaffung eines neuen hochauflösenden Röntgendiffraktometers. Die Variation dieser strukturellen Parameter sollen über Wafer bis zu 100 mm Durchmesser analysiert werden. Das Einjustieren der Proben, die Messabläufe und Auswertungen müssen schnell, exakt und zu einem hohen Grad automatisiert sein.
Det indhold, der offentliggøres på denne side, er udelukkende tænkt som en supplerende tjeneste og har ingen retsvirkning. EU's institutioner påtager sig intet ansvar for dens indhold. De officielle udgaver af de relevante udbudsbekendtgørelser er dem, der er offentliggjort i tillægget til Den Europæiske Unions Tidende og findes i TED. Disse officielle tekster er tilgængelige direkte via linkene på denne side. Yderligere oplysninger findes i meddelelsen om udbudsbetingelser og ansvar.